一、PCT高壓加速壽命老化試驗箱用途:
PCT高壓加速壽命老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
二、PCT高壓加速壽命老化試驗箱規(guī)格:
1.內(nèi)箱尺寸:Φ300×D450(mm)
2.外箱尺寸:W660×H1050×D1250(mm)
3.內(nèi)箱材質(zhì):SUS316#不銹鋼板材質(zhì).
4.外箱材質(zhì):高級烤漆或不銹鋼
5.溫度范圍:100℃~132℃.(飽和蒸氣溫度).
6.濕度范圍:RH.(飽和蒸氣濕度).
7.壓力范圍:0.2Kg,cm2~2.4Kg,cm2控制點壓力.
8.時間范圍:0~999小時可調(diào).
9.溫度分布:(+,-)2.0℃.
10.升溫時間:RT~132℃約45分鐘內(nèi).(控制點溫度).
11.加壓時間:0.0Kg,cm2~2.0Kg,cm2約40分鐘內(nèi)(控制點壓力).
12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
13.控制方式:微電腦PID控制.
14.控制精度:(+,-)0.5℃.15.解析精度:0.1℃.
三、PCT高壓加速壽命老化試驗箱結(jié)構(gòu)特點:
1.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)容器標準,可予防試驗中結(jié)露滴水現(xiàn)象;
2.圓幅內(nèi)膽,不銹鋼圓弧型內(nèi)膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊;
3.水管采用銅管+喇叭口,精密設計,氣密性良好,耗水量;
4.專用型packing,材質(zhì):耐高溫夕膠發(fā)泡成型,內(nèi)箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式完全不同,可延長packing壽命;
6.實驗開始前可將原來內(nèi)箱之空氣抽出,并吸入過濾器,過濾之新空氣packing<1micom.以確保箱內(nèi)之純凈度.;
7.臨界點LIMIT方式自動保護,異常原因與故障提示;
8.機臺具有定時干燥功能,使試驗產(chǎn)品處于干燥狀態(tài);
9.水箱采用16L大容量水箱,置于箱體底部,獨家采用自動補水功能;試驗不終斷;試驗結(jié)束時設備會自動瀉除壓力;
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